Equotip 550 便攜式金屬硬度檢測(cè)儀，里氏 (Leeb)、洛氏 (Rockwell) 和超聲波接觸阻抗（UCI)

Equotip 550三種檢測(cè)方法 – 一個(gè)解決方案
Equotip 550 是使用動(dòng)態(tài) Leeb、Portable Rockwell 和 UCI的便攜式硬度檢測(cè)功能的一體化解決方案。具備多探頭連接、自定義轉(zhuǎn)換曲線、可定制報(bào)告和數(shù)據(jù)導(dǎo)出至 PC 等功能，利用所有三種檢測(cè)方法提供*的靈活性。

Leeb里氏 – 快速而輕松
Equotip 550 Leeb 涉及許多各種不同的里氏原理應(yīng)用，由于采用了七個(gè)不同的沖擊裝置和 16 個(gè)支撐環(huán)，是*快且*容易的硬度確定方法。向?qū)?、?bào)告、映射及許多其他新功能讓硬度檢測(cè)變得比以往任何時(shí)候更方便和劃算。

Portable Rockwell洛氏 - 非常適合輕薄樣品
Equotip 550 Portable Rockwell 是一個(gè)靜態(tài)硬度檢測(cè)解決方案，在輕薄樣品應(yīng)用中深受歡迎。此外，它無(wú)需進(jìn)行特殊調(diào)整即可應(yīng)用于幾乎所有材料，它越來(lái)越多地被當(dāng)作其他測(cè)量原理的參考方法。范圍廣泛的附件使得它成為用途非常廣泛的解決方案。

UCI超聲波 - 不易接觸區(qū)域
Equotip 550 UCI 非常適合不易接觸區(qū)域（例如，焊縫、HAZ或難處理的表面結(jié)構(gòu)）的測(cè)量。UCI 測(cè)量快速而輕松。利用我們****的 UCI 探頭，帶有從 HV1 至 HV10 的可調(diào)節(jié)檢測(cè)負(fù)載，僅需使用一個(gè)探頭就可以涵蓋范圍廣泛的應(yīng)用。

Equotip 550 便攜式金屬硬度檢測(cè)儀觸摸屏裝置滿足嚴(yán)苛環(huán)境使用
優(yōu)化的防震外殼設(shè)計(jì)，更穩(wěn)健符合人體工程學(xué)的設(shè)計(jì)和減震橡膠外殼，可防塵和防水 (IP 54)。
具有防塵和穩(wěn)壓的電路設(shè)計(jì)，特別設(shè)計(jì)的保護(hù)橡膠帽適合所有接頭，符合低電壓安全和電磁兼容性 (EMC) 指令。
響應(yīng)式觸摸屏，高分辨率顯示屏，易于使用
可定制視圖，根據(jù)您的需要設(shè)置信息顯示。

Equotip 540
適合的單個(gè)檢測(cè)方法，Equotip 540 支持無(wú)需廣泛報(bào)告功能的普通基本使用。它提供基本功能和一組基本附件，支持使用 Leeb D 或 UCI 進(jìn)行便攜式硬度檢測(cè)。

Equotip 附件
附件和測(cè)試塊組合，提供具有不同硬度級(jí)別和范圍廣泛的硬度測(cè)試塊，用于定期，現(xiàn)場(chǎng)驗(yàn)證。Proceq 還提供*的測(cè)量夾、支撐腳和環(huán)對(duì)各種，待測(cè)樣本幾何體進(jìn)行檢測(cè)。

Equotip 550 便攜式金屬硬度檢測(cè)儀型號(hào)-訂貨型號(hào)

Equotip 540 Leeb D
Equotip 540 UCI HV1- HV10
Equotip 550
Equotip 550 Leeb D
Equotip 550 Leeb G
Equotip 550 Portable Rockwell
Equotip 550 UCI HV1-HV10
Equotip 550 Portable Rockwell & Leeb D 套件
Equotip 550 Portable Rockwell & UCI 套件
Equotip 550 Leeb D & UCI 套件
Equotip Portable Rockwell Probe 50N*
Equotip Live Leeb D
Equotip Live Leeb D - 初始租賃費(fèi)
Equotip Live Leeb D - 報(bào)告功能
Equotip Live UCI HV1- HV10